• Home
  • Nieuws
  • Programma
  • Demo’s op de beursvloer
  • Exposanten
    • Deelnemen als exposant
      • Deelnameformulier D&E event 2023
    • Mediapartners
  • Locatie
  • Historie
    • Programma 2022
    • Programma 2021
    • Programma 2020
    • Programma 2019
      • Foto impressie
    • Programma 2018
      • D&E Event NL
        • Partners NL
      • D&E Event BE
        • Conference 2018
        • Exhibitors 2018
        • Exhibition Center
        • Partners BE
    • D&E NL 2017
      • Programma NL 2017
      • Exposanten 2017
    • D&E BE 2017
      • Conference BE 2017
      • Exhibitors 2017
    • D&E 2016
      • Presentaties en programma 2016
      • Exposanten 2016
    • D&E 2015
      • Presentaties en programma 2015
    • D&E 2014
      • Exposanten 2014
      • Presentaties en programma 2014
    • D&E 2013
      • Exposanten 2013
      • Presentaties en programma 2013
      • D&E Event – 9 oktober 2013
  • Contact
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

D&E Event

Design Automation & Embedded Systems

Boundary scan, de ruggengraat van HW validatie tijdens alle stadia van de product life cycle

Klik hier om de replay te bekijken.

Na een bondige uitleg welke test applicaties en In System Programmeer applicaties mogelijk zijn via de JTAG interface, staat de spreker stil bij de voordelen en waarde hiervan tijdens de ontwerp fase, prototype fase, de productie en als het eindproduct in het veld staat.
Rik Doorneweert, JTAG Technologies

Terug naar het programma.

Privacy statement
Disclaimer
Cookies

Copyright © 2023 · Onderdeel van FHI ·