Enquêteformulier Enqueteformulier bezoekers digitale editie D&E event 2020 Bedankt voor uw bezoek aan het D&E event 2020! Om zo goed mogelijk aan wensen en behoeften van u als bezoeker te voldoen vragen wij u om uw bevindingen betreffende het D&E event 2020 met ons te delen. Organisatie* Naam* Voornaam Tussenvoegsel Achternaam E-mailadres* 1. Hoe bent u op het digitale D&E event geattendeerd?* Publicatie in vakblad Op uitnodiging van een exposant Directe mail van FHI E-mail nieuwsbrief van FHI Internet Via collegae, e.d. Toelichting2. Met welke doelstellingen heeft u het digitale D&E event bezocht?* Technische kennis m.b.t. hardware en software opdoen Leggen en onderhouden van contacten met bestaande relaties Oriëntatie t.a.v. leveranciers voor R&D en softwareontwikkeling Oriëntatie t.a.v. investeringen/inkoop Algemene oriëntatie Anders Toelichting3. Hoe gemakkelijk was de benodigde informatie die u zocht te vinden op de D&E event website?* Goed Voldoende Matig Onvoldoende Toelichting4.1. Wat vond u van de kwaliteit en inhoud van de lezingen?* Goed Voldoende Matig Onvoldoende Toelichting4.2. Welke lezingen heeft u bijgewoond?* Jim ten Broeke, Advantech: How the Industrial Edge computing will evolve within Digital transformation in the Smart Industry Bobby Vale, Advantech (on behalf of Telerex): DeviceOn – Edge Intelligence monitor en management Solution Software Remco van de Griendt, Würth Elektronik: SMA connectoren vs. RF-Transmissielijnen Pavel Tadtaev, Cadence (on behalf of CB Distribution): Developing PCBs for Wireless Applications With EM Verification and an RF Design Flow Dirk Stans, Eurocircuits: Van CAD naar CAM Arne Padmos, Security Engineer: Security by Design for the Internet of Things Nicolas Demoulin, Microchip (on behalf of EBV): Embedded System & Security: why a Secure Element to support Standards and upcoming Legislation Gerard Fianen, INDES-IDS: Troubleshooten en (remote) debuggen & monitoren van Embedded Linux Jan Kuper, QBayLogic: How to program an FPGA Rik Doorneweert, JTAG Technologies: Boundary scan, de ruggengraat van HW validatie tijdens alle stadia van de product life cycle Rick Stroot, Innofour: Overcoming the challenges of technical product design using a solution that dissolves the boundaries between design phases and disciplines or domains Patrick Fokke, managing director Siemens Benelux: Digitale Transformatie – Kansen en Bedreigingen Herjan Meutstege, Altium en Henk de Jonge, Prime EDA BV: A better way to Connect, Share and Collaborate your PCB Designs Ricky Gremmelmaier, Altec (on behalf of Elincom Electronics): The end of 2D NAND is near – how to live with the “weak” 3D NAND in the industry Norbert Wiechowski, Mindmotiv (on behalf of Logic Technology): Arttest – A Customizable Test Environment for Embedded Systems Kurt van Buul, HMS Networks: Real-time Embedded Communications without using stacks Stuart Murlis, PicoTech (on behalf of CN Rood: The challenges of Debugging of mixed signal designs Eric Kroon, Nokia: Mobile Edge Computing, when and where to use? Hoe beoordeelt u de lezing van 'Jim ten Broeke, Advantech: How the Industrial Edge computing will evolve within Digital transformation in the Smart Industry' met een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Bobby Vale, Advantech (on behalf of Telerex): DeviceOn – Edge Intelligence monitor en management Solution Software' met een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Remco van de Griendt, Würth Elektronik: SMA connectoren vs. RF-Transmissielijnen' met een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Pavel Tadtaev, Cadence (on behalf of CB Distribution): Developing PCBs for Wireless Applications With EM Verification and an RF Design Flow' met een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Dirk Stans, Eurocircuits: Van CAD naar CAM' met een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Arne Padmos, Security Engineer: Security by Design for the Internet of Things' met een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Nicolas Demoulin, Microchip (on behalf of EBV): Embedded System & Security: why a Secure Element to support Standards and upcoming Legislation' met een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Gerard Fianen, INDES-IDS: Troubleshooten en (remote) debuggen & monitoren van Embedded Linuxmet' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Jan Kuper, QBayLogic: How to program an FPGA' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Rik Doorneweert, JTAG Technologies: Boundary scan, de ruggengraat van HW validatie tijdens alle stadia van de product life cycle' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Rick Stroot, Innofour: Overcoming the challenges of technical product design using a solution that dissolves the boundaries between design phases and disciplines or domains' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Patrick Fokke, managing director Siemens Benelux: Digitale Transformatie – Kansen en Bedreigingen' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Herjan Meutstege, Altium en Henk de Jonge, Prime EDA BV: A better way to Connect, Share and Collaborate your PCB Designs' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Ricky Gremmelmaier, Altec (on behalf of Elincom Electronics): The end of 2D NAND is near – how to live with the “weak” 3D NAND in the industry' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Norbert Wiechowski, Mindmotiv (on behalf of Logic Technology): Arttest – A Customizable Test Environment for Embedded Systems' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Kurt van Buul, HMS Networks: Real-time Embedded Communications without using stacks' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Stuart Murlis, PicoTech (on behalf of CN Rood: The challenges of Debugging of mixed signal designs' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)Hoe beoordeelt u de lezing van 'Eric Kroon, Nokia: Mobile Edge Computing, when and where to use?' een rapportcijfer (1-10)?*10 (uitstekend)987654321 (zeer slecht)4.3. Hoe was de beeldkwaliteit?* Goed Voldoende Matig Onvoldoende 4.5. Wat vond u van het programma van het digitale event in het algemeen?* Goed Voldoende Matig Onvoldoende Toelichting5. Hoe vond u het proces voorafgaand gaan qua inschrijven, aanmelden voor de webinars etc.?* Goed Voldoende Matig Onvoldoende Toelichting6. Hoe beoordeelt u het digitale D&E event met een rapportcijfer (1-10)?* 10 (uitstekend) 9 8 7 6 5 4 3 2 1 (zeer slecht) 7. Welk onderwerp zou u graag belicht willen zien bij een volgende editie?8. Bent u van plan de volgende editie van het D&E event te bezoeken als deze wederom digitaal gehouden wordt?* Ja Nee Misschien 9. Bent u van plan de volgende editie van het D&E event te bezoeken als deze weer fysiek plaats zal vinden?* Ja Nee Misschien 10. Hoe waarschijnlijk beveelt u het D&E event aan bij collega’s/bekenden?* Uitermate waarschijnlijk Zeer waarschijnlijk Redelijk waarschijnlijk Niet erg waarschijnlijk Helemaal niet waarschijnlijk 11. Op welke manier kan het D&E event volgens u nog verbeterd worden?*12. Welke andere (digitale events uit dit vakgebied bezoekt u? Wat vind u hiervan de sterk(st)e aspecten?*Bedankt voor uw medewerking!