• Home
  • Nieuws
  • Programma
  • Demo’s op de beursvloer
  • Exposanten
    • Deelnemen als exposant
      • Deelnameformulier D&E event 2023
    • Mediapartners
  • Locatie
  • Historie
    • Programma 2022
    • Programma 2021
    • Programma 2020
    • Programma 2019
      • Foto impressie
    • Programma 2018
      • D&E Event NL
        • Partners NL
      • D&E Event BE
        • Conference 2018
        • Exhibitors 2018
        • Exhibition Center
        • Partners BE
    • D&E NL 2017
      • Programma NL 2017
      • Exposanten 2017
    • D&E BE 2017
      • Conference BE 2017
      • Exhibitors 2017
    • D&E 2016
      • Presentaties en programma 2016
      • Exposanten 2016
    • D&E 2015
      • Presentaties en programma 2015
    • D&E 2014
      • Exposanten 2014
      • Presentaties en programma 2014
    • D&E 2013
      • Exposanten 2013
      • Presentaties en programma 2013
      • D&E Event – 9 oktober 2013
  • Contact
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

D&E Event

Design Automation & Embedded Systems

Multiple-clock Domain in FPGA Designs: Challenges & Solutions

19 september 2018 door miranda

Frank de Bont (Core|Vision) spreekt tijdens het D&E event over de uitdagingen en oplossingen voor het toepassen van een multiple-clock domein in een FPGA ontwerp. De belangrijkste uitdaging is om synchronisatiefouten te voorkomen en betrouwbaarheid van het ontwerp te verzekeren. De spreker gaat in op geavanceerde ontwerpintegratie- en verificatietechnieken om de betrouwbaarheid te garanderen.

Frank de Bont start met algemene synchronisatieproblemen die optreden tijdens een FPGA ontwerp. In de presentatie worden de verschillende ontwerpstadia belicht, te beginnen met het RTL-ontwerp met gebruik van FPGA IP-modules tot synthese, P&R en gate-level verificatiestadia. Ook bespreekt hij mogelijke oplossingen voor de gepresenteerde problemen in elk van de ontwerpstadia.

Om de betrouwbaarheid te verhogen kan ook met een andere ontwerpmethodologie gewerkt worden. Naast een hoge betrouwbaarheid leidt dit ook tot een kortere time-to-market. Hierdoor wordt de tijd die nu wordt besteedt aan bugfixes tijdens laboratoriumtests tot een minimum beperkt.

Bekijk hier het programma en meld u aan voor een bezoek.

Categorie: Nieuws, Nieuwsbrief 1

Gerelateerd:

  • De connectie tussen sensoren,...
  • Introduction to DDR4 Design and Test
    Introduction to DDR4 Design and...
  • Modulaire elektronicabehuizingen van de serie ICSIn een paar klikken een slim en...
  • New PowerPC module

miranda

Email: miranda@fhi.nl

Website:

Privacy statement
Disclaimer
Cookies

Copyright © 2023 · Onderdeel van FHI ·