• Home
  • Nieuws
  • Programma
  • Demo’s op de beursvloer
  • Exposanten
    • Deelnemen als exposant
      • Deelnameformulier D&E event 2023
    • Mediapartners
  • Locatie
  • Historie
    • Programma 2022
    • Programma 2021
    • Programma 2020
    • Programma 2019
      • Foto impressie
    • Programma 2018
      • D&E Event NL
        • Partners NL
      • D&E Event BE
        • Conference 2018
        • Exhibitors 2018
        • Exhibition Center
        • Partners BE
    • D&E NL 2017
      • Programma NL 2017
      • Exposanten 2017
    • D&E BE 2017
      • Conference BE 2017
      • Exhibitors 2017
    • D&E 2016
      • Presentaties en programma 2016
      • Exposanten 2016
    • D&E 2015
      • Presentaties en programma 2015
    • D&E 2014
      • Exposanten 2014
      • Presentaties en programma 2014
    • D&E 2013
      • Exposanten 2013
      • Presentaties en programma 2013
      • D&E Event – 9 oktober 2013
  • Contact
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

D&E Event

Design Automation & Embedded Systems

Maak de juiste keuzes bij de aanschaf of eigen ontwikkeling van een testsysteem voor elektronica

Niemand wil een product in de markt zetten wat niet aan de wensen van de eindgebruiker voldoet. Om er dus zeker van te zijn dat wat je hebt geproduceerd ook daadwerkelijk functioneert zoals het is bedoeld en het liefst gedurende de gehele gebruikerscyclus van het product, zul je het dus goed moeten controleren/testen voordat het de fabriek verlaat. Om dit testen kostenefficiënt in te richten is een elektrische test aan het einde van de assemblage van de PCBA (Printed Cirquit Board Assembly) en het volledig geassembleerde product noodzakelijk. Het testen wordt gedaan met behulp van een zogenaamd testsysteem.

Nu kun je voor iedere DUT (Device Under Test) een testsysteem (laten) bouwen en ontwikkelen maar je kunt ook denken aan een universeel en modulair testsysteem welke in staat is al je producten te testen. Het ontwerp van de PCBA is hierbij heel belangrijk. Het is namelijk onmogelijk om een DUT goed te testen als je er niet bij kunt met je meetapparatuur of programmer. Daarom wordt ook kort ingegaan op de het belang van DFT (Design for Test) en wat hierbij de belangrijke aspecten zijn om rekening mee te houden in je ontwerp en bovenal, waarom.

Alle aspecten welke van belang zijn bij het maken van de keuzes en de mogelijke valkuilen waar je mee te maken kunt krijgen tijdens de ontwikkeling van zo’n testsysteem en van de bijbehorende test-tooling komen in deze presentatie aan bod.
Peter van Oostrom, Romex

Ontdek meer over de demo die Romex verzorgt op de beursvloer. Klik hier voor meer info.

Terug naar het programma

Privacy statement
Disclaimer
Cookies

Copyright © 2023 · Onderdeel van FHI ·