• Home
  • Nieuws
    • Rubriek normen
  • EMC-ESD event 2023
    • Programma 2023
    • Demo’s op de beursvloer
    • Exposanten 2023
  • Activiteiten
    • Overzicht activiteiten
    • EMC-ESD event
      • Informatie en inschrijven
      • Programma 2023
      • Exposanten 2023
      • Demo’s op de beursvloer
    • Mediabibliotheek EMC-ESD vereniging
    • Lidmaatschap NEC-EMC & NEC-ESD
    • Archief
      • Archief 2022
      • Archief 2020/2021
        • Programma EMC-ESD event 2021
        • Exposantenlijst EMC-ESD event 2021
      • Archief 2019
        • EMC-ESD Evenement 2019
          • Algemene informatie
          • Programma 2019
          • Exposanten 2019
      • Archief 2018
        • EMC-ESD Evenement 2018
          • Programma
          • Exposanten
      • Archief 2017
  • Vereniging
    • Leden
    • Studentenleden
    • Lid worden
    • Over de vereniging
  • Contact
    • Contact
  • Meld je hier aan als lid!
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

EMC-ESD Vereniging

Near-field meettechnieken voor het debuggen van EMC emissie problemen

8 oktober 2014 door FHI, Industriële Elektronica

emckamerUitstraling wordt bepaald door het elektronisch veld op te meten op een afstand van 3 of 10 meter (‘far-field metingen’). Dat schrijft de norm voor. Door deze grote afstand reduceren deze testen zich tot pure pass/fail testen die heel weinig inzicht verschaffen over de echte oorzaak van een emissie-probleem. Debugging ontaardt veelal in trial-and-error met als gevolg dat bedrijven noodgedwongen kiezen voor dure noodoplossingen (extra metalen behuizing, extra filters,…).

Het meten van (common-mode) stromen op bekabeling, elektromagnetische velden dicht bij openingen/spleten en de diverse printborden (‘near-field metingen’), kan meer gedetailleerde informatie opleveren en helpen om de echte root-cause aan te duiden. Tijdens de presentatie van Davy Pissoort wordt beschreven hoe de combinatie van diverse near-field meettechnieken op efficiënte manier aangewend wordt om de root-cause van een EMC emissie probleem te vinden en op kost-efficiënte wijze op te lossen. De workflow omvat stroomprobes, hand-held near-field probes, near-field scanners, goedkope antennes.

Meld u aan voor een gratis bezoek aan EMC-ESD in de Praktijk.

Categorie: Nieuws, Nieuwsbrief 2

Gerelateerd:

  • ALV bij Space Expo met ESA ESTEC
  • Ametek Programmable Power...
  • EMC deskundigheid: risico’s...
  • EMC en ESD in beweging

FHI, Industriële Elektronica

Email: marc@fhi.nl

Website: http://www.eabeurs.nl

Privacy statement
Disclaimer
Cookies

Copyright © 2023 · Onderdeel van FHI ·