• Home
  • Nieuws
    • Rubriek normen
  • Activiteiten
    • EMC-ESD event
      • EMC-ESD event
      • Programma 2021
      • Exposanten 2021
      • Plattegrond
      • Demoplein
    • Mediabibliotheek EMC-ESD vereniging
    • Archief
      • Archief 2019
        • EMC-ESD Evenement 2019
          • Algemene informatie
          • Programma 2019
          • Exposanten 2019
      • Archief 2018
        • EMC-ESD Evenement 2018
          • Programma
          • Exposanten
      • Archief 2017
      • Archief 2016
      • Archief 2015
        • EMC-dag 2015
          • Programma 2015
          • Registreren
          • Exposanten
      • Archief 2014
        • EMC-Kennismarkt Zuid 2014
        • EMC-ESD in de Praktijk
          • Programma
          • Nieuwsbrief 1
          • Nieuwsbrief 2
          • Nieuwsbrief 3
          • Partners
      • Archief 2013
      • Archief 2012
      • Archief 2011
      • Archief 2010
      • Archief 2009
      • Archief 2008
    • Bronnen
  • Vereniging
    • Leden
    • Studentenleden
    • Lid worden
    • Over de vereniging
  • Contact
  • Meld u hier aan als lid!
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

EMC-ESD Vereniging

Near-field meettechnieken voor het debuggen van EMC emissie problemen

8 oktober 2014 door FHI, Industriële Elektronica

emckamerUitstraling wordt bepaald door het elektronisch veld op te meten op een afstand van 3 of 10 meter (‘far-field metingen’). Dat schrijft de norm voor. Door deze grote afstand reduceren deze testen zich tot pure pass/fail testen die heel weinig inzicht verschaffen over de echte oorzaak van een emissie-probleem. Debugging ontaardt veelal in trial-and-error met als gevolg dat bedrijven noodgedwongen kiezen voor dure noodoplossingen (extra metalen behuizing, extra filters,…).

Het meten van (common-mode) stromen op bekabeling, elektromagnetische velden dicht bij openingen/spleten en de diverse printborden (‘near-field metingen’), kan meer gedetailleerde informatie opleveren en helpen om de echte root-cause aan te duiden. Tijdens de presentatie van Davy Pissoort wordt beschreven hoe de combinatie van diverse near-field meettechnieken op efficiënte manier aangewend wordt om de root-cause van een EMC emissie probleem te vinden en op kost-efficiënte wijze op te lossen. De workflow omvat stroomprobes, hand-held near-field probes, near-field scanners, goedkope antennes.

Meld u aan voor een gratis bezoek aan EMC-ESD in de Praktijk.

Categorie: Nieuws, Nieuwsbrief 2

Gerelateerd:

  • Nieuwsbrief 25
    Nieuwsbrief 25
  • Nieuwsbrief 10
    Nieuwsbrief 10
  • Actuele aandachtspunten voor...
  • Deelnemen als exposant

FHI, Industriële Elektronica

Email: marc@fhi.nl

Website: http://www.eabeurs.nl

Categorieën

  • EMC-consultancy (3)
  • EMC-defensie (2)
  • EMC-fabricage (2)
  • EMC-industriële automatisering (3)
  • EMC-medische toepassingen (1)
  • EMC-meetapparatuur (38)
  • EMC-ontwikkeling (3)
  • EMC-opleiding/training (1)
  • EMC-producten (2)
  • EMC-semi-conductors (1)
  • EMC-testhuizen (1)
  • ESD-consultancy (2)
  • ESD-control implementeren (1)
  • ESD-ontwikkeling (2)
  • ESD-opleiding/training (2)
  • ESD-producten (1)
  • exposant (15)
  • lid (41)
  • Nieuws (174)
  • Nieuwsbrief 1 (3)
  • Nieuwsbrief 2 (3)
  • Nieuwsbrief 3 (3)
  • Nieuwsbrieven (58)

Privacy statement
Disclaimer
Cookies

Copyright © 2022 · Onderdeel van FHI ·