• Home
  • Nieuws
    • Rubriek normen
  • Activiteiten
    • EMC-ESD event
      • EMC-ESD event
      • Programma 2021
      • Exposanten 2021
      • Plattegrond
      • Demoplein
    • Mediabibliotheek EMC-ESD vereniging
    • Archief
      • Archief 2019
        • EMC-ESD Evenement 2019
          • Algemene informatie
          • Programma 2019
          • Exposanten 2019
      • Archief 2018
        • EMC-ESD Evenement 2018
          • Programma
          • Exposanten
      • Archief 2017
      • Archief 2016
      • Archief 2015
        • EMC-dag 2015
          • Programma 2015
          • Registreren
          • Exposanten
      • Archief 2014
        • EMC-Kennismarkt Zuid 2014
        • EMC-ESD in de Praktijk
          • Programma
          • Nieuwsbrief 1
          • Nieuwsbrief 2
          • Nieuwsbrief 3
          • Partners
      • Archief 2013
      • Archief 2012
      • Archief 2011
      • Archief 2010
      • Archief 2009
      • Archief 2008
    • Bronnen
  • Vereniging
    • Leden
    • Studentenleden
    • Lid worden
    • Over de vereniging
  • Contact
  • Meld u hier aan als lid!
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

EMC-ESD Vereniging

Waarom de huidige ESD eisen een Systeem-Efficiënt ESD Design (SEED) niet kunnen garanderen

De huidige ESD kwalificatie methoden op apparaat niveau en op component-niveau zijn gebaseerd op verschillende normen die het menselijk lichaam model (HBM), het opgeladen apparaat methode (CDM), de (zeer snel) transmissie lijn puls testmethode (vf) TLP en de IEC 61000-4-2 en ISO 10605 productniveau ESD testmethoden.

De eerste vraag die moet worden beantwoord is of deze testen, met hun toepassing, lijken op de echte ESD bedreigingen die zich voordoen. Een diepgaande analyse van hoe deze tests worden uitgevoerd is nodig.

De tweede vraag die moet worden beantwoord, is over de ‘echte’ bedreigingen die de apparaten en modules, hetzij als onderdeel tijdens bewerking, hetzij tijdens het gebruik kapotmaken. Deze vraag omvat de ook de verder miniaturisatie effecten bij nanometer processen op steeds hoge data- en kloksnelheden.

De laatste vraag gaat over wat er noodzakelijk wordt geacht t.o.v. de huidige ESD eisen welke kunnen leiden dat op een hoger niveau van vertrouwen dat de som van de afzonderlijke maatregelen de SEED eisen kunnen afdekken.

EMCMCC – Mart Coenen

Terug

Categorieën

  • EMC-consultancy (3)
  • EMC-defensie (2)
  • EMC-fabricage (2)
  • EMC-industriële automatisering (3)
  • EMC-medische toepassingen (1)
  • EMC-meetapparatuur (38)
  • EMC-ontwikkeling (3)
  • EMC-opleiding/training (1)
  • EMC-producten (2)
  • EMC-semi-conductors (1)
  • EMC-testhuizen (1)
  • ESD-consultancy (2)
  • ESD-control implementeren (1)
  • ESD-ontwikkeling (2)
  • ESD-opleiding/training (2)
  • ESD-producten (1)
  • exposant (15)
  • lid (41)
  • Nieuws (174)
  • Nieuwsbrief 1 (3)
  • Nieuwsbrief 2 (3)
  • Nieuwsbrief 3 (3)
  • Nieuwsbrieven (58)

Privacy statement
Disclaimer
Cookies

Copyright © 2022 · Onderdeel van FHI ·