Thema: Statistische analyse
Op 26 juni 2014 heeft er een PLOT ledenbijeenkomst plaatsgevonden bij NXP in Nijmegen. De presentaties die deze dag zijn gegeven kunt u hieronder downloaden:
Ledenbijeenkomst
Pitch: Teledyne Dalsa
Pitch: ENMO/Brüel & Kjær
Presentaties: Introductie NXP door Peter Vullings
Lezing 1: Lezing 1: Sample Sizes in Reliability Testing – René Rongen – NXP
Lezing 2: Sample Size for Testing – Ronald Schop – Holland Innovative BV (presentatie volgt)
Aansluitend hebben de leden een rondleiding gekregen langs de 3 competenties van het Regionaal Quality Center (RQC): Fout analyse, Materiaal analyse en Reliability testing, alles met betrekking tot chips en chipfabricage.
Betrouwbaarheid van IC’s
