Test & Meet, een kijk in de toekomst – digitaal

30 september 2020, 09:30 - 13:00

LOCATIE: Digitaal

De presentaties zijn terug te kijken via onderstaand programma.
Klik op de presentatie(s) naar keuze en volg de instructie.

Test & Meet, een kijk in de toekomst

Het testen en meten van producten is in de ontwerp- en ontwikkelfase al van groot belang. In deze fasen wordt een product samengesteld en komen de eerste kinderziektes vaak bovendrijven tijdens de diverse metingen. Door problemen in deze vroege stadia op te vangen wordt er gewerkt aan een zo hoog mogelijke kwaliteit. Het welbekende “voorkomen is beter dan genezen” is een zeer toepasselijke uitspraak voor dit vakgebied.

In een continu veranderende wereld kan het Test & Meet gebied niet achterblijven. Dit seminar neemt u mee in de nieuw(st)e ontwikkelingen op het gebied van Test & Meet in de ontwerp-/ontwikkelfase. Een vijftal bedrijven praatte de bezoekers op woensdag 30 september vanaf 09.30 digitaal bij over uitdagingen die zij tegenkomen in het vakgebied.

Programma

Start & eindtijd Beschrijving
09:30 - 10:00

Current Drain Analysis on Low Power Devices 

HuYen Chai, Keysight Technologies (on behalf of Acal BFi) 

10:15 - 10:45

Future of power electronic components testing

Kees Revenberg, MASER Engineering  

11:00 - 11:30

Challenges of Wide-band Gap FET Measurements 

Sven de Coster, CN Rood 

11:45 - 12:15

Co-creations is key to today and in the future,  what will it bring to you? 

Rick de Vries, Advantech 

12:30 - 13:00

Internet of Things and worldwide Market access

Sajid Mohammed, TÜV Rheinland    

 

Mediapartner

WOTS Partners