Test & Meet, een kijk in de toekomst

01 oktober 2020, 13:30 - 16:40

LOCATIE: Zaal Mission 2

Het testen en meten van producten is in de ontwerp- en ontwikkelfase al van groot belang. In deze fasen wordt een product samengesteld en komen de eerste kinderziektes vaak bovendrijven tijdens de diverse metingen. Door problemen in deze vroege stadia op te vangen wordt er gewerkt aan zo hoog mogelijke kwaliteit. Het welbekende “voorkomen is beter dan genezen” is een zeer toepasselijke uitspraak voor dit seminar.

In een continu veranderende wereld kan het Test & Meet gebied niet achterblijven. Dit seminar neemt u mee in de nieuw(st)e ontwikkelingen op het gebied van Test & Meet in de ontwerp-/ontwikkelfase. Een zevental bedrijven praten u bij over uitdagingen die zij tegenkomen in het vakgebied.

Let op: het programma is onder voorbehoud. Tijden kunnen nog wijzigen. Houdt deze pagina in de gaten voor de actuele planning.

Programma

Start & eindtijd Beschrijving
13:00 - 13:30

Ontvangst

13:30 - 13:55

Future of power electronic components testing
Kees Revenberg, MASER Engineering

13:55 - 14:20

Challenges of Wide-band Gap FET Measurements
Sven de Coster, C.N. Rood

14:20 - 14:45

Spanning meten zonder contact te maken met spanning voerende delen, kan dat?
Roy Hali, Batenburg Mechatronica

14:45 - 15:00

Pauze

15:00 - 15:25

RED – Radio module and Wireless product testing for market access
Sajid Mohammed, TÜV Rheinland

15:25 - 15:50

Wordt het karakteriseren van RF-componenten een uitdaging in de toekomst?
Thomas Rottach, SIGLENT Technologies Germany GmbH (namens Tooltronics)

15:50 - 16:15

Design for Testing (DFT) of RF Products and Analysis of Related Production Data
Rebecka Erntell & Ola Thernström, Mikrodust AB (namens MG products)

16:15 - 16:40

Input volgt

Mediapartner

WOTS Partners