• Home
  • Nieuws
    • Rubriek normen
  • Activiteiten
    • EMC-ESD event
      • EMC-ESD event
      • Programma 2021
      • Exposanten 2021
      • Plattegrond
      • Demoplein
    • Mediabibliotheek EMC-ESD vereniging
    • Archief
      • Archief 2019
        • EMC-ESD Evenement 2019
          • Algemene informatie
          • Programma 2019
          • Exposanten 2019
      • Archief 2018
        • EMC-ESD Evenement 2018
          • Programma
          • Exposanten
      • Archief 2017
      • Archief 2016
      • Archief 2015
        • EMC-dag 2015
          • Programma 2015
          • Registreren
          • Exposanten
      • Archief 2014
        • EMC-Kennismarkt Zuid 2014
        • EMC-ESD in de Praktijk
          • Programma
          • Nieuwsbrief 1
          • Nieuwsbrief 2
          • Nieuwsbrief 3
          • Partners
      • Archief 2013
      • Archief 2012
      • Archief 2011
      • Archief 2010
      • Archief 2009
      • Archief 2008
    • Bronnen
  • Vereniging
    • Leden
    • Studentenleden
    • Lid worden
    • Over de vereniging
  • Contact
  • Meld u hier aan als lid!
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

EMC-ESD Vereniging

ESD-testsituatie – Hoe kunnen we meten wat we willen weten?

11 februari 2015 door FHI, Industriële Elektronica

op woensdag 20 mei 2015 bij Initial Cleanroom, Hooge Zijde 16, Kapelbeemd, Eindhoven

DOEL en beschrijving

Diverse ESD sessies hebben inmiddels met succes plaatsgevonden. Het doel van de bijeenkomst ‘Hoe kunnen we meten wat we willen weten’ op 20 mei is wederom kennisuitwisseling tussen leden van de EMC-ESD Vereniging, leden van de brancheorganisatie Industriële Elektronica en OEM’ers.

Als je een test met diverse meetmethoden uitvoert, komen er verschillende resultaten uit. Hoe moet je deze resultaten nu interpreteren en wat is het juiste resultaat?

Het praktische doel van de dag is het bespreken en begrijpen van verschillen die op kunnen treden bij het toepassen van diverse meetmethoden en bij het gebruik van verschillende meetapparatuur. Kortom het bespreken van de dagelijkse ESD (meet) problematiek.

Het geheel zal, evenals vorige bijeenkomst, weer geleid worden door Bas Grootemaat van Kingsize Consultancy.

 

De volgende discussie-punten worden ondermeer aan de aanwezigen voorgelegd:

Wat zijn binnen de elektrostatica de meest gangbare meetmethoden

  •      Wat zijn de meest gebruikelijke meetapparaten
  •      Hoe verklaren we verschillen in meetresultaten
  •      Wat staat er over meetmethoden in de normen
  •      Waarom kalibratie van meetapparatuur
  •      Meetnauwkeurigheid
  •      Wat verder ter tafel komt

Tijdschema:
9.00 uur: Ontvangst
9.30 uur: Welkom door Initial Cleanroom
9.45 uur: Presentatie/inleiding over de discussie punten
10.45 uur: Pauze
11.00 uur: Discussie en meten met/door aanwezigen
12.00 uur: Lunch
12.45 uur: Kort vervolg van discussie
13.30 uur: Samenvatting van de besproken onderwerpen en bespreken vervolg
14.00 uur: Afronding
14.30 uur: Rondleiding bij Initial Cleanroom

Aanmelding:  Aanmelden kan door een mail te sturen naar e.hazeleger@fhi.nl. Er is een maximum van 30 aanmeldingen.

 

Categorie: Nieuws Tagged: ESD sessie

Gerelateerd:

  • Grote systemen en ESD-issues
  • EMC metingen essentieel voor...
  • EMC en gezondheid
    EMC en gezondheid
  • Nieuwsbrief 7
    Nieuwsbrief 7

FHI, Industriële Elektronica

Email: marc@fhi.nl

Website: http://www.eabeurs.nl

Categorieën

  • EMC-consultancy (3)
  • EMC-defensie (2)
  • EMC-fabricage (2)
  • EMC-industriële automatisering (3)
  • EMC-medische toepassingen (1)
  • EMC-meetapparatuur (38)
  • EMC-ontwikkeling (3)
  • EMC-opleiding/training (1)
  • EMC-producten (2)
  • EMC-semi-conductors (1)
  • EMC-testhuizen (1)
  • ESD-consultancy (2)
  • ESD-control implementeren (1)
  • ESD-ontwikkeling (2)
  • ESD-opleiding/training (2)
  • ESD-producten (1)
  • exposant (15)
  • lid (41)
  • Nieuws (174)
  • Nieuwsbrief 1 (3)
  • Nieuwsbrief 2 (3)
  • Nieuwsbrief 3 (3)
  • Nieuwsbrieven (58)

Privacy statement
Disclaimer
Cookies

Copyright © 2022 · Onderdeel van FHI ·