De actuele kansen binnen industriële markten liggen in connectiviteit en digitalisering. Waar termen als Internet of Things, Industry 4.0 en Smart Industry door elkaar gebruikt kunnen worden, komt het vanzelfsprekend neer op netwerken van sensoren en Big Data. Dan gaat het bij high tech applicaties naast de grote hoeveelheden gegevens om gecompliceerde structuren. Complexiteit biedt unieke uitdagingen en in de PLOT Conferentie wordt daarom door Jan Eite Bullema TNO ingegaan op de Reliability bij Big Data toepassingen.
De presentatie haakt in op de vraag hoe nieuwe elementen in de Big Data als covariaten verbonden kunnen worden aan traditionele betrouwbaarheidsreacties zoals Time to Failure, Time to Recurrence of Events en degradatiemetingen. Nieuwe methoden zoals deep learning, text mining en multivariate degradatiemodellen worden momenteel verkend om de werkwijze rond Big Data te gebruiken voor betrouwbaarheidsapplicaties.
Deze nieuwe methoden kunnen de basis vormen voor nieuwe betrouwbaarheidsvoorstellen zoals op gebruik gebaseerde verzekeringen. De basis voor deze presentatie wordt ondersteund door een paper van William Meeker en collega’s. Daarin worden nieuwe betrouwbaarheidsmethoden voor het gebruik van Big Data geïntroduceerd.
Bij TNO wordt momenteel concreet gewerkt aan Digital Twins voor Smart Manufacturing. Een onderwerp dat nauw gerelateerd is aan het gebruik van Big Data voor betrouwbaarheid in industriële omgevingen.
Hier kunt u het programma van de PLOT Conferentie bekijken. Op de site kunt u zich ook aanmelden voor een gratis bezoek.
Testen van auto’s en treinen
Een top conferentie voor het...
20 jaar omgevingstesten