• Home
  • Nieuws
  • Programma
    • Programma 2020
    • Programma 2018
    • Programma 2016
  • Exposanten
    • Deelnemen als exposant
  • Mediapartners
  • Locatie
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

PLOT Conferentie

Omgevingstesten, reliability, mechanische beproevingen, klimaat

'20 24 november 2020
Digitale webinars
Klik hier voor het: Terugkijken van de webinars!

PLOT conferentie

Testen om uiteindelijk tot producten te komen die in praktijkomstandigheden net zo functioneren als verwacht wordt door de consument. Daar draait het om in het
vakgebied omgevingstechnologie. Op 24 en 25 november 2020 vond digitaal de PLOT Conferentie 2020 plaats. Diverse exposanten verzorgen interessante presentaties in verschillende webinars.

Heeft u het event gemist? Niet getreurd! De webinars zijn terug te kijken via het programma.

Slide Slide Vernieuwd IT Infra event biedt bezoeker laatste inzichten Slide

Tektronix Reimagines Performance and Portability in Oscilloscopes

Tektronix Reimagines Performance and Portability in Oscilloscopes

Unveiling the 2 Series Mixed Signal Oscilloscope Tektronix, Inc unveiled the 2 Series Mixed Signal Oscilloscope (MSO), reimagining what is possible in...

Lees meer

Hioki to Launch Three Battery Quality Testers in 2022 in Drive to Eliminate Battery Fires

Hioki to Launch Three Battery Quality Testers in 2022 in Drive to Eliminate Battery Fires

CN Rood is pleased to announce that in 2022 Hioki will launch three new measuring instruments designed to detect latent defects in...

Lees meer

Customized 60kW bidirectional DC simulation system ready in six weeks

Customized 60kW bidirectional DC simulation system ready in six weeks

For testing DC inverters and drive systems for trucks and heavy machinery, our customer was looking for a DC simulation system. To...

Lees meer

Goede opkomst en interactie op CE-markering bijeenkomst

Goede opkomst en interactie op CE-markering bijeenkomst

Op woensdag 11 mei kwamen bij FHI in Leusden 30 leden van de EMC-ESD-, EMVT- of PLOT vereniging bijeen voor interessante en...

Lees meer

Industry’s first PXI LCR & SMU combo instrument

Industry’s first PXI LCR & SMU combo instrument

Many semiconductor elements and electronics devices require both current-voltage (IV) and capacitance-voltage (CV) measurements to extract critical information about a manufacturing process...

Lees meer

Meer nieuws

Copyright © 2022 · Onderdeel van FHI ·