Thema: Statistische analyse Op 26 juni 2014 heeft er een PLOT ledenbijeenkomst plaatsgevonden bij NXP in Nijmegen. De presentaties die deze dag zijn gegeven kunt u hieronder downloaden: Ledenbijeenkomst Pitch: Teledyne Dalsa Pitch: ENMO/Brüel & Kjær Presentaties: Introductie NXP door Peter Vullings Lezing 1: Lezing 1: Sample Sizes in Reliability
Ledenbijeenkomst PLOT bij NXP – 26 juni
Op 26 juni is PLOT te gast bij NXP te nijmegen. Het thema van deze middag is Statistische analyse. Onderstaand treft u het programma: 12:00 – 12:30 Ontvangst met broodjes 12:30 – 13:30 Ledengedeelte 13:30 – 13:45 Introductie NXP door Peter Vullings –
Omgevingstesten voor beginners
In onderstaande artikelen is een aantal basis Omgevingstesten verder uitgewerkt: Otb-1- Schoktesten Otb-2- Sinustesten Otb-3- Random vibration testen Otb-4- Overzicht tril- en schoktechnieken Otb-5- Zoutsproeitesten Otb-6- Gecombineerd testen: trillen en temperatuur Otb-7- Schoktesten op basis van schok respons spectrum Otb-8- HALT en HASS Otb-9- Temperatuur schok testen Otb-10-
Ledenbijeenkomst Benteler Engineering
Thema: Testen in de Automotive Op 23 februari 2012 heeft er een PLOT ledenbijeenkomst plaatsgevonden bij Benteler Engineering Services in Helmond. De presentaties die deze dag zijn gegeven kunt u hieronder downloaden: Ledenbijeenkomst: Elevatorpitch: From troubleshooting to design first time right – LMS Presentaties: Lezing 1: Testen in Automotive – Benteler Engineering