• Home
  • Nieuws
  • Activiteiten
    • Ledenbijeenkomsten
    • Lunchsessies PLOT
    • Showcase en Conferentie
      • PLOT Showcase 2019
        • Programma
        • Exposanten
      • PLOT Conferentie 2018
      • PLOT Showcase 2017
      • PLOT Conferentie 2016
      • PLOT Showcase 2015
        • Programma Showcase – 25 november 2015
        • Locatie
    • Werkgroepen
      • Werkgroep Mechanische Beproevingen
      • Werkgroep Reliability
      • Werkgroep Klimaat
    • Omgevingstesten voor beginners
    • Trainingen en cursussen
    • CEEES
  • Vereniging
    • Leden
    • Over de vereniging
    • PLOT Profielenboek
    • English
      • Activities
      • Workgroups
      • Members
      • Boardmembers
  • Lid worden
  • Contact
  • Account
    • Login
  • Login
  • Zoeken

PLOT

omgevingstesten, klimaatkasten

Industry’s first PXI LCR & SMU combo instrument

Industry’s first PXI LCR & SMU combo instrument

18 mei 2022 door C.N. Rood

Many semiconductor elements and electronics devices require both current-voltage (IV) and capacitance-voltage (CV) measurements to extract critical information about a manufacturing process or validate device performance.  Traditionally, IV measurements are made with a source measure unit (SMU), and the CV measurements are made with an LCR meter, capacitance measurement unit (CMU), or impedance analyzer. Systems needing both CV and IV...

Lees meer

Connecting the DUTS - innovative pull-through Mass Interconnect solution

Connecting the DUTS - innovative pull-through Mass Interconnect solution

18 mei 2022 door C.N. Rood

The SCOUT mass interconnect from MAC Panel was developed to maximise the performance potential of PXI based ATE systems. By eliminating cable harnesses between the PXI/PXIe instruments and the system interface, SCOUT offers unprecedented outright signal performance and stability when compared with traditional designs that relied on cable harnesses.

Lees meer

ABtronix overgenomen door CNRood

ABtronix overgenomen door CNRood

11 mei 2022 door ABtronix B.V.

CN Rood, koploper in kennis en oplossingen op het gebied van test- en meetapparatuur, breidt door de overname van ABtronix, professional T&M equipment, haar positie in de Benelux en Scandinavië verder uit. De producten en service van ABtronix sluiten perfect aan op het bestaande portfolio. Door de overname zijn de klanten van ABtronix ook in de toekomst verzekerd van de...

Lees meer

CN Rood neemt ABtronix over

CN Rood neemt ABtronix over

11 mei 2022 door C.N. Rood

CN Rood, koploper in kennis en oplossingen op het gebied van test- en meetapparatuur, breidt door de overname van ABtronix, professional T&M equipment, haar positie in de Benelux en Scandinavië verder uit. De producten en service van ABtronix sluiten perfect aan op het bestaande portfolio. Door de overname zijn de klanten van ABtronix ook in de toekomst verzekerd van de...

Lees meer

NI Announces New Software Bundle to Help Engineers Optimize Test Systems

NI Announces New Software Bundle to Help Engineers Optimize Test Systems

13 april 2022 door C.N. Rood

NI announced its Test Workflow subscription bundle for automating test systems. This offering expands engineers’ access to the software needed to design and automate a test or measurement system through a single software license. 

Lees meer

Verslag bijeenkomst werkgroep Klimaat 23-03-2022

Verslag bijeenkomst werkgroep Klimaat 23-03-2022

11 april 2022 door FHI

In oktober 2021 hebben we met de werkgroep Klimaat een start gemaakt met een nieuw onderwerp namelijk UV/ Solar testen. De tweede bijeenkomst met betrekking tot dit onderwerp is bij Accell Group in Heerenveen. We zijn hier ontvangen met een heerlijke lunch en bovendien een hele mooie locatie voor de werkgroep Klimaat om samen te komen! Dank voor deze uitnodiging!...

Lees meer

18 mei 2022: PLOT-ledenbijeenkomst Bosch Security Systems

18 mei 2022: PLOT-ledenbijeenkomst Bosch Security Systems

07 april 2022 door FHI

Op woensdag 18 mei brengt het PLOT een bezoek aan Bosch Security Systems in Eindhoven.De bijeenkomst zal in het teken staan van “Weathering testen”. Klik hier voor meer informatie.

Lees meer

Bijeenkomst over wetgeving voor elektronica producten; het systeem rond de CE-markering

Bijeenkomst over wetgeving voor elektronica producten; het systeem rond de CE-markering

18 maart 2022 door FHI

Op woensdag 11 mei organiseren wij voor de leden van de Nederlandse EMC-ESD vereniging, PLOT- vereniging en EMVT-vereniging een zeer interessante bijeenkomst over het systeem rond de CE-markering en productaansprakelijkheid bij elektronica producten. De nadruk ligt op wetgeving en certificeren van elektronica producten met een CE-markering. Voor de elektronica bedrijfsketen in de Benelux gaat dat dus ook direct over productaansprakelijkheid...

Lees meer

23 maart 2022: Bijeenkomst PLOT Werkgroep Klimaat over UV/ Solar radiation and weathering testing

23 maart 2022: Bijeenkomst PLOT Werkgroep Klimaat over UV/ Solar radiation and weathering testing

01 maart 2022 door FHI

23 maart 2022: Bijeenkomst PLOT Werkgroep Klimaat over UV/ Solar radiation and weathering testing

Lees meer

Nieuwjaarsgroet namens PLOT

Nieuwjaarsgroet namens PLOT

13 januari 2022 door FHI

Beste PLOT-leden, Allereerst de beste wensen voor een mooi 2022 in alle gezondheid en voorspoed. Laten we er van uit gaan dat dit hét jaar wordt van een jubileumviering, van fysiekere bijeenkomsten en nieuwe mogelijkheden. We hebben aangetoond dat ook in de moeilijker tijden het PLOT een hechte groep is met ongekende krachten. Een groep die flexibel met veranderende omstandigheden...

Lees meer

Previous 1 2 3 4 5 ... 6 Next

Categorieën

  • (Aero)Space (3)
  • Analytical services (2)
  • Application areas (4)
  • Automotive (6)
  • Burn-in & accelerated life test (3)
  • Combined tests (5)
  • Constant Acceleration (3)
  • Consum (3)
  • Drop (4)
  • Electrical tests (2)
  • EMC/EMI (2)
  • Environmental tests (5)
  • ESD & Latch Up (3)
  • exposant (16)
  • Failure & Material Analysis (3)
  • FMECA + MTBF (2)
  • Geen categorie (9)
  • HALT/HASS (5)
  • ICT (4)
  • Industrial (6)
  • IR Thermography (2)
  • lid (26)
  • Light fastness & UV test (2)
  • Mechanical tests (9)
  • Medical (3)
  • Nieuws (83)
  • Non-destructive XRAY & SEM (2)
  • Optical & Electron Microscopy (2)
  • Parametric & Functional tests (2)
  • Salt Mist and Gas corrosion (4)
  • Shock (6)
  • Temperature & Humidity (4)
  • Vibration (6)
  • Vibration and Climate (5)
  • Vibration and Temperature (6)
  • Video (11)
  • Water or Dust for IP levels (4)
  • Weathering (4)

Privacy statement
Disclaimer
Cookies

Copyright © 2022 · Onderdeel van FHI ·