Inzicht door het karakteriseren van onzekerheden in S-parametermetingen

Inzicht door het karakteriseren van onzekerheden in S-parametermetingen Door: FHI, Federatie van Technologie Branches

Voordat u metingen uitvoert met een VNA (Vector Network Analyzer), moet de meetopstelling worden gekalibreerd met een kalibratiekit om zodoende systeemfouten te voorkomen.

Naast systeemfouten in de meetopstelling zijn er ook willekeurige fouten die de nauwkeurigheid van s-parameter metingen beïnvloeden. Wanneer u deze willekeurige fouten niet kwantificeert, kan de nauwkeurigheid alleen worden geraden. Tijdens de presentatie van Dirk Faber van Hi-Tech RF & Microwave Solutions leren de aanwezigen welke willekeurige fouten de nauwkeurigheid van s-parameter metingen beïnvloeden. Ook zal worden besproken hoe ze inzicht kunnen krijgen in deze willekeurige fouten en hoe ze deze kunnen verminderen. Lees verder…

Meld je nu aan voor een gratis bezoek.

Terug naar de homepage.