Een gestructureerd testproces van embedded software is van cruciaal belang. De economische of juridische schade kan enorm oplopen door een softwarefout. Ook binnen internet of things-productontwikkeling is testen een van de meest essentiële onderdelen in het ontwikkelproces. Geruime tijd geleden is er door de International Standardisation Organization een model opgesteld voor het opzetten en analyseren van dataverbindingen tussen twee communicerende partijen. Dit model heet het OSI-model. Het OSI-model bestaat uit zeven lagen, te weten: de applicatielaag, presentatielaag, sessielaag, transportlaag, netwerklaag, datalinklaag en fysieke laag. Een Internet of Things-device maakt in principe gebruik van alle zeven lagen van het OSI model en bij het testen moet er serieus naar alle lagen worden gekeken.
Het functioneel testen wordt vaak gezien als zeer complex en daardoor een (te) duur aspect. Vooral de RF-functie van de IoT-apparaten wordt vaak niet adequaat en voldoende getest. Oorzaak is een gebrek aan kennis van het testproces. Logic Technology gaat in zijn lezing in op de diverse oplossingen voor test engineers. Na deze lezing heeft u niet alleen concrete handvatten voor het intensief testen van de juiste RF-functie, maar heeft u ook een oplossing om de complexiteit en de kosten beheersbaar te houden.
Dat testen een kostenfactor is, erkent ook Hans Baka van C.N. Rood. In zijn lezing belicht hij de voor- en nadelen van verschillende testaspecten en -methoden. Het resultaat is om een aanbeveling te kunnen vormen van een passende mix van de verschillende testtechnologieën.
Klik hier voor het complete programma en meld u aan voor een gratis bezoek.
English (UK)