Kunstmatige intelligentie vindt zijn weg naar Embedded applicaties

Kunstmatige intelligentie vindt zijn weg naar Embedded applicaties Door: FHI, Federatie van Technologie Branches

Kunstmatige intelligentie vindt zijn weg naar Embedded applicaties

Geen alternatieve tekst opgegeven voor deze afbeelding

Tegenwoordig vindt kunstmatige intelligentie steeds meer zijn weg naar embedded systemen. Het maakt toepassingen mogelijk die voorheen ondenkbaar waren. Echter kan het integreren van dit soort high-performance hardware in zware omstandigheden implicaties met zich meebrengen.

Florian Faltin van Elma- Electronic vertelt namens Elincom Electronics aan de hand van een klantcase hoe omgegaan kan worden met dergelijke problemen. En een belangrijke vraag die niet vergeten mag worden is hoe in de toekomst gezorgd wordt voor herbruikbaarheid van zo'n complexe ontwikkeling voor vergelijkbare toepassingen.

Lees verder...

Statische analyses zijn niet voldoende om real-time embedded software te testen

Geen alternatieve tekst opgegeven voor deze afbeelding

Steeds vaker worden MISRA-verificaties en statische analyses gebruikt om embedded software te testen en te verifiëren. Een real-time embedded systeem geeft, zoals de naam al verklapt, data ‘live’ door. Vers van de pers! Om dit proces goed te laten verlopen is het van belang om een dergelijk systeem goed te testen alvorens deze in gebruik wordt genomen.

Tijdens het D&E event laat Gerard Fianen van INDES-IDS u graag zien welke mogelijkheden er zijn voor het uitvoeren van statische en dynamische analyses. Hij gaat onder andere in op unit testen, code coverage en de overwegingen die van belang zijn bij de keuze en het invoeren van deze testtools.

Lees verder...

Vroeg testen brengt voordelen!

Geen alternatieve tekst opgegeven voor deze afbeelding

Wellicht is het testen van een product/systeem niet het eerste wat in uw gedachten opkomt tijdens het ontwerp van de desbetreffende applicatie. Toch is het belangrijk om hier vanaf de beginfase goed over na te denken. Met testen in een vroeg stadium kunnen fouten en daarmee extra kosten voorkomen worden.

Een methode om vroeg te kunnen testen is een zogeheten HIL-test (Hardware in the Loop). Kenmerkend aan deze methodiek is dat in een simulatie, in een model, verschillende toestanden van sensors, actuators en mens/machine-interface nagebootst worden. Op deze manier worden toekomstige uitkomsten voorspeld, nog voordat een applicatie gerealiseerd is. William Baars van C.N. Rood vertelt u graag meer over de testmethodiek en laat enkele praktijkvoorbeelden, waaronder terugroepacties door een gebrek aan aandacht in de ontwerp-/testfase, zien.

Lees verder...

Software ontwikkeling integreren in bedrijfsprocessen

Geen alternatieve tekst opgegeven voor deze afbeelding

Het dagelijkse functioneren van een bedrijf bestaat uit een complex net van bedrijfsprocessen. Om deze bedrijfsprocessen overzichtelijk te kunnen beheren is de juiste software-tooling vaak een passende oplossing. Met een dergelijk systeem kun je bijvoorbeeld in één oogopslag zien of materialen tijdig geleverd worden, de assemblage niet stagneert, marketing communicatie is goedgekeurd en wat er nog in de weg staat om een deadline te halen.

Dit alles klinkt natuurlijk erg goed! Maar hoe ontwikkel en integreer je een dergelijk platform? Andre De Ceuninck van Logic Technology geeft u in zijn lezing een aantal handvatten. Doe tijdens de sessie inspiratie op en zie welke zaken van belang zijn bij de ontwikkeling van een geschikt systeem.

Lees verder...

Ontwerpuitdagingen van een Multi-Sensor module in Smart Buildings

Geen alternatieve tekst opgegeven voor deze afbeelding

Voor slimme gebouwen zijn innovatieve oplossingen nodig die een breed scala aan sensoren en functies combineren tot een eenvoudig te installeren en compacte module. Iedere situatie vraagt om een eigen oplossing.

Bert van den Berg van 3T geeft tijdens zijn presentatie een inkijkje in een case waarin uitdagingen van het ontwerpen van een bGrid multisensor node aan het licht komen. De applicatie vereist veel interfaces en sensoren, gecombineerd in een kleine behuizing met de uitdaging van een laag stroomverbruik en nauwkeurige metingen. Bent u benieuwd hoe deze problemen getackeld zijn? Breng dan zeker even een bezoek aan de lezing van 3T.

Lees verder...

Klik hier om u aan te melden voor een gratis bezoek aan het D&E event, fysiek of digitaal.