Demo & lezing over Double Pulse Testing - 'The Standard Method for Measuring Switching Parameters'

Demo & lezing over Double Pulse Testing - 'The Standard Method for Measuring Switching Parameters' Door: CN Rood

CN Rood en Tektronix geven komende E&A beurs veel aandacht aan Double Pulse Testing. Tijdens het seminar "De invloed van Hardware Design op Time-to-Market" bespreekt Mr. Sushil Vohra van Tektronix de mogelijkheden van Double Pulse Testing. Op de stand van CN Rood (stand 7C130) zien bezoekers een live demonstratie van Double Pulse Testing waarbij gebruik wordt gemaakt van de Tekstronix 5 series MSO.

 

Minimaliseren van schakelverliezen

Het minimaliseren van schakelverliezen blijft een grote uitdaging voor engineers die werken met SiC en GaN. De standaard testmethode voor het meten van schakelparameters en het evalueren van het dynamische gedrag van Si, SiC en GaN MOSFET's en IGBT's is de Double Pulse Test (DPT). Met deze test kan het energieverlies tijdens het in- en uitschakelen van het apparaat gemeten worden.

 

De basisprincipes van de Double Pulse Testing

Een Double Pulse Test wordt uitgevoerd met twee apparaten. Eén apparaat is het te testen apparaat (DUT) en het tweede apparaat is meestal hetzelfde type als de DUT. De inductor wordt gebruikt om circuitcondities na te bootsen die in een converterontwerp kunnen voorkomen. Voor de Double Pulse Testing zijn de volgende instrumenten nodig: een voeding of SMU om de spanning te leveren, een arbitraire functiegenerator (AFG) om pulsen uit te sturen die de gate van de MOSFET aanzetten om de geleiding van de stroom te starten, en een oscilloscoop om de resulterende golfvormen te meten. Bezoek de stand van CN Rood voor de live demo.

 

Lezing tijdens Seminar 'De invloed van Hardware Design op Time-to-Market

Het seminar 'De invloed van Hardware Design op Time-to-Market' adviseert beursbezoekers over design voor productie, betrouwbaarheid en compliancy voor een kortere Time-to-Market. Sushil Vohra van Tektronix geeft tijdens dit seminar een lezing over Double Pulse Testing: 'The Standard Method for Measuring Switching Parameters'. De lezing vindt plaats van 14:15 - 14:40 uur. Aanmelden voor het seminar is gratis.

 

Seminar 'De invloed van Hardware Ontwerp op Time-to-Market'
Dinsdag 26 september 13:00 - 16:15

 

Meld je nu aan voor de beurs en registreer je voor het seminar